【岗位职责】 1. 负责芯片的可测试性设计（DFT）方案制定与实施，包括扫描链、MBIST、边界扫描等 2. 进行DFT架构设计，制定测试策略，确保芯片可测试性覆盖率达到设计要求 3. 插入和验证DFT结构，包括Scan、ATPG、MBIST、Boundary Scan等 4. 生成和验证测试向量（Test Pattern），完成故障覆盖率分析 5. 进行DFT时序分析和功耗分析，确保DFT电路不影响芯片性能 6. 与前端设计、后端实现团队协作，解决DFT相关的设计问题 7. 支持量产测试，分析测试失效问题并提出改进方案 8. 编写DFT设计文档和测试规范 【任职要求】 1.硕士研究生及以上学历，集成电路、微电子等相关专业。 2. 熟悉DFT设计流程和EDA工具（如Synopsys DFT Compiler、Tessent等）. 3. 掌握扫描链、ATPG、MBIST等DFT技术 。4. 了解芯片制造和测试流程。